表面粗糙度分析---AFM(原子力显微术)

       AFM: 原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构面的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表结构及性质。

如下是检测报告提供内容形式